搜索晶片相关_书籍/杂志/报纸分类_按热销排行排序的商品_第2页 - 名品折扣

首页超级人气榜领券中心限时抢购 9块9包邮 19块9包邮京东购拼多多购优惠头条

首页全部商品

书籍/杂志/报纸

共 299 款相关商品

商品分类

热门搜索

新上人气热销价格↑ 价格↓ 不限价格 0-30元 31-100元 101-300元 301-1000元 1001-3000元 3001-10000元 10000元以上

T30866 2014碳化硅单晶片直径测试方法图书纸版

原价 18.15销量 0

￥18.15 麦内哲图书旗舰店
2010硅晶片上浅腐蚀坑检测 T26066 图书测试方法纸版

原价 13.64销量 0

￥13.64 麦内哲图书旗舰店
2010化合物半导体抛光晶片亚表面损伤 T26070 图书反射差分谱测试方法纸版

原价 17.60销量 0

￥17.6 麦内哲图书旗舰店
X射线光电子能谱法 25188 图书 2010硅晶片表面超薄氧化硅层厚度纸版测量

原价 24.65销量 0

￥24.65 中国标准出版社旗舰店
30867 图书 2014碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法纸版

原价 20.40销量 0

￥20.4 中国标准出版社旗舰店
T30867 2014碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法图书纸版

原价 16.50销量 0

￥16.5 麦内哲图书专营店
T32988 2016人造石英光学低通滤波器晶片图书纸版

原价 23.60销量 0

￥23.6 麦内哲图书旗舰店
T16596 2019确定晶片坐标系规范图书纸版

原价 18.70销量 0

￥18.7 麦内哲图书专营店
2010化合物半导体抛光晶片亚表面损伤 T26070 图书反射差分谱测试方法纸版

原价 16.00销量 0

￥16 麦内哲图书专营店
T32988 2016人造石英光学低通滤波器晶片图书纸版

原价 23.60销量 0

￥23.6 麦内哲图书旗舰店
T30866 2014碳化硅单晶片直径测试方法图书纸版

原价 16.50销量 0

￥16.5 麦内哲图书专营店
器件用单晶晶片规范与测量方法 30118 图书 2013声表面波纸版 SAW

原价 50.15销量 0

￥50.15 中国标准出版社旗舰店
图书 2010硅晶片上浅腐蚀坑检测纸版 26066 测试方法

原价 20.40销量 0

￥20.4 中国标准出版社旗舰店
T30118 图书 SAW 纸版 2013声表面波器件用单晶晶片规范与测量方法

原价 39.98销量 0

￥39.98 麦内哲图书专营店
T32278 2015碳化硅单晶片平整度测试方法图书纸版

原价 16.50销量 0

￥16.5 麦内哲图书专营店
T30867 2014碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法图书纸版

原价 18.15销量 0

￥18.15 麦内哲图书旗舰店
T26071 2018太阳能电池用硅单晶片图书纸版

原价 22.10销量 0

￥22.1 麦内哲图书专营店
T32278 2015碳化硅单晶片平整度测试方法图书纸版

原价 18.15销量 0

￥18.15 麦内哲图书旗舰店
16595 图书 2019晶片通用网格规范纸版

原价 24.65销量 0

￥24.65 中国标准出版社旗舰店
T30118 图书 SAW 纸版 2013声表面波器件用单晶晶片规范与测量方法

原价 43.98销量 0

￥43.98 麦内哲图书旗舰店
32988 图书 2016人造石英光学低通滤波器晶片纸版

原价 26.35销量 0

￥26.35 中国标准出版社旗舰店
T13387 2009硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法图书纸版

原价 16.06销量 0

￥16.06 麦内哲图书旗舰店
T26071 2018太阳能电池用硅单晶片图书纸版

原价 24.31销量 0

￥24.31 麦内哲图书旗舰店
T986 2014晶片正面系列字母数字标志规范图书纸版

原价 15.30销量 0

￥15.3 中国标准出版社旗舰店
T13387 2009硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法图书纸版

原价 14.60销量 0

￥14.6 麦内哲图书专营店
纸版图书半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻测试非接触涡流法

原价 26.35销量 0

￥26.35 中国标准出版社旗舰店
32278 图书 2015碳化硅单晶片平整度测试方法纸版

原价 20.40销量 0

￥20.4 中国标准出版社旗舰店
2014碳化硅单晶片微管密度 T30868 图书测定化学腐蚀法纸版

原价 16.50销量 0

￥16.5 麦内哲图书专营店
2014碳化硅单晶片微管密度 T30868 图书测定化学腐蚀法纸版

原价 18.15销量 0

￥18.15 麦内哲图书旗舰店
2024 半导体晶片表面金属沾污图书纸版测定 24578 全反射X射线荧光光谱法

原价 32.30销量 0

￥32.3 中国标准出版社旗舰店

上一页 123 4 5 6 7 8 9 10 下一页

收藏
分享
客服